[ 基础信息 ]
生产国家 : 日本
制造厂商 : 日本电子株式会社
购置日期 : 2019-10-01
规格型号 : JEM-NEOARM
[ 分类信息 ]
设备类型 : 分析仪器, 电子光学仪器, 透射电镜
设备编号 : 21000178
[ 联系信息 ]
联系人 : 赵培丽, 蒲十周
存放地址 : 物理学院D-B101
联系电话 : 13476293899
联系邮箱 : plzhao@whu.edu.cn
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :
日本电子双能谱探头，每个探测器检测面积为100mm2；
主要功能及特色 :
主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分分析。可拍摄TEM BF/DF image、SAED pattern、HRTEM image、
STEM HAADF/ABF image, EDS mapping等。
主要规格及技术指标 :
加速电压：80 kV, 200 kV
极靴类型：高分辨极靴
晶格分辨率：0.104 nm (200 kV)
扫描透射附件分辨率：0.1 nm (200 kV), 0.2 nm (80 kV)
放大倍数误差：±5%
样品室真空度：优于2×10-5 Pa
