扫描器:快速扫描器(10×10 μm)、狭域扫描器(2.5×2.5 μm)
环境配置:真空系统、可控气氛腔室、腔室温湿度调节系统(温度≥50℃,湿度≤60%)、样品加热冷却系统(-90-300℃)
本台原子力显微镜(AFM)可以在纳米尺度下研究材料表面的结构、力学、和电学等性质。配备全套测试附件,共12种成像模式,可实现对样品的表面形貌、相位、摩擦力、力学特性、表面电势、压电性能等的高效表征。同时本仪器配备可实现液下、空气两种环境下的观察,并配有可控气氛腔室系统,能够实现腔室气氛控制、温湿度、以及样品台的加热冷却等功能,完成样品在不同环境下的在线观察。
成像模式:接触模式、动态模式、相位模式、水平力模式、力调制模式、力曲线模式、电流模式、表面电势模式(KFM)、扫描隧道模式(STM)、压电模式(PFM)、溶液扫描模式、颗粒分析