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主要应用于纳米材料和纳米孔材料，以及黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物的定性、定量物相分析。
可用于结晶度、晶粒尺寸和应变、Rietveld结构表征、晶格参数细化。
可用于薄膜样品分析（含掠入射）。
可用于小角散射表征介孔材料孔径、纳米材料粒径分布分析。

旋转Cu靶陶瓷x光管，光管功率9kW；θ-θ高精度测角仪，角度范围-3˚-160˚：闭环驱动系统，样品水平放置；CBO技术聚焦光路和平行光路自动切换；Kα1光路；In-plane衍射测量；超高速D/tex-Ultra 250一维阵列探测器；高灵敏度闪烁探测器；六位样品台；毛细管样品台。