场发射扫描电子显微镜
[ 基础信息 ]
生产国家 :
制造厂商 :
购置日期 : 2016-08-08
规格型号 : Zeiss Merlin Compact
[ 分类信息 ]
设备类型 : 分析仪器, 电子光学仪器, 扫描电镜
设备编号 : 15000184
[ 联系信息 ]
联系人 : 曹余良, 丁艳
存放地址 : 化学学院C119
联系电话 :
联系邮箱 :
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :
无
主要功能及特色 :
无
主要规格及技术指标 :
（1）电子光学系统
加速电压：0.1 kV～30 kV；分辨率： 0.8nm @ 15kV 1.6nm @ 1kV。
图像放大倍数：12～1000,000×（二次电子像），100~1000.000×（背散射电子像）
（2）X射线能谱系统
X射线显微分析系统（能谱仪）（EDS）：作为电子探针的附件配置在ULTRA PLUS-43-13型电子探针上使用。
型号：X-MaxN型电制冷能谱仪
生产国别厂家： 英国牛津仪器公司
主要技术指标：分辨率：优于127eV；MK峰背比：20,000:1； 稳定性：1,000cps~100,000cps时，谱峰漂移＜1eV，分辨率变化＜1eV，48小时内谱峰漂移＜1.5eV（Mn Kα）
元素探测范围：探测到低至铍（包括铍）的所有元素
主要用途：元素的定性分析、线、面分布等，X-Max 50型电制冷能谱仪无需添加液氮，方便快捷，具有图像及成分图的能谱分析系统，具有分辨率高等特点。可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，进行材料表面微区成分的定性和半定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。
