场发射扫描电子显微镜

[ 基础信息 ]
生产国家 :
制造厂商 :
购置日期 : 2016-08-08
规格型号 : Zeiss Merlin Compact
[ 分类信息 ]
设备类型 : 分析仪器, 电子光学仪器, 扫描电镜
设备编号 : 15000184
[ 联系信息 ]
联系人 : 曹余良, 丁艳
存放地址 : 化中106房间
联系电话 :
联系邮箱 :
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :

主要功能及特色 :

主要规格及技术指标 :

(1)电子光学系统
加速电压:0.1 kV~30 kV;分辨率: 0.8nm @ 15kV 1.6nm @ 1kV。
图像放大倍数:12~1000,000×(二次电子像),100~1000.000×(背散射电子像)
(2)X射线能谱系统
X射线显微分析系统(能谱仪)(EDS):作为电子探针的附件配置在ULTRA PLUS-43-13型电子探针上使用。
型号:X-MaxN型电制冷能谱仪 
生产国别厂家: 英国牛津仪器公司 
主要技术指标:分辨率:优于127eV;MK峰背比:20,000:1; 稳定性:1,000cps~100,000cps时,谱峰漂移<1eV,分辨率变化<1eV,48小时内谱峰漂移<1.5eV(Mn Kα)
元素探测范围:探测到低至铍(包括铍)的所有元素
主要用途:元素的定性分析、线、面分布等,X-Max 50型电制冷能谱仪无需添加液氮,方便快捷,具有图像及成分图的能谱分析系统,具有分辨率高等特点。可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析,进行材料表面微区成分的定性和半定量分析,在材料表面做元素的面、线、点分布分析。

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[ 开放机时安排 ]
[ 参考收费标准 ]