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主要规格及技术指标

温度变化范围从4.2K到475K。制冷形式：使用制冷剂制冷，消耗液氦或液氮。 6探针臂，探针臂分别在防辐射屏和样品台上热沉，每个探针搭到样品上后，对样品的温度影响小于0.5K 防辐射屏上安装温度计和加热器，系统可进行快速回温 *控温稳定性：优于±50mK 光学分辨率优于4µm 系统可进行直流到50MHZ的射频测量,，微波实验最高可引入的信号可达到：40GHZ 探针具有Guard保护结构设计，适合于进行微弱电信号测量 探针阻值为50欧姆或100欧姆，可为射频RF测量提供很好的匹配阻抗，同时电缆也要具有与探针相同的匹配电阻。

主要附件及配置

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主要功能及特色

对晶体管、集成电路进行电学测量，测量热循环下电学性能的变化