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半导体特性分析系统
半导体特性分析系统
仪器编号
12000249
规格
生产厂家
吉时利仪器公司
型号
4200-scs
制造国家
美国
购置日期
2012-11-30
放置地点
八一路299号 武汉大学物理科学与技术学院2-104八一路299号 武汉大学物理科学与技术学院2-104
出厂日期
2012-06-22

主要规格及技术指标

无

主要附件及配置

*

主要功能及特色

对晶体管、集成电路进行电学测量

公告名称 公告内容 发布日期

暂无收费标准

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