1、光谱范围:370-1000nm 2、变角方式:计算机控制自动变角,变角范围:45-90º 3、*补偿方式:旋转补偿 4、*测量速度:最快20Hz,典型全光谱1-3秒 5、测量正确度: 95%以上的被测点满足Ψ ≤ 45° ± 0.075°,Δ ≤ 0° ± 0.05°(直射测量,即测空气) 6、膜厚测量重复性:0.003nm (30次2nm SiO2膜厚测量的标准偏差)
无
膜厚测量