精密光学干涉测量系统
精密光学干涉测量系统
仪器编号
20000034, 20000032, 20000484
规格
6000*1800*400,Verifire 4
生产厂家
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,翟柯莱姆达/上海,青岛前哨精密仪器
型号
6000*1800*400,Verifire 4
制造国家
中国
购置日期
2020-12-23
放置地点
, 珞喻路129号 武汉大学信息学部宇航科学与技术研究院珞喻路129号 武汉大学信息学部宇航科学与技术研究院
出厂日期
2020-12-23

主要规格及技术指标

1. 干涉仪口径4英寸,光路结构:水平;
2. 波长632.8nm,可调谐激光器;输出功率>3mw;频率稳定度优于0.0001nm;
3. 高精度平面镜头:精度λ/20PV@λ=632.8nm;可选配更高精度,精度λ/50PV@λ=632.8nm;
4. 平台台面精度等级:“00”级,即台面整体平面度优于0.01mm;
5.大口径基准平面反射镜镜面面形精度:RMS优于λ/60(其中,λ=632.8nm);
大口径长焦距平行光管出瞳波前误差:RMS优于λ/15(其中,λ=632.8nm);

主要附件及配置

主要功能及特色

主要用于光学元器件表面和光波前的非接触3D测量,为各种光学零件的表面形态提供纳米级的精确测量,在空间光学载荷的光机装调、光学元件检测等应用中体现了极高的价值和性能。

公告名称 公告内容 发布日期

暂无收费标准