1.垂直高度仪器分辨率好于或等于0.1 纳米;2.测试高度方向的重复性好于或等于0.5 纳米;3.探针压力:不小于 0.05毫克-15毫克范围;4. 扫描长度:单程>55mm
扫描针尖曲率半径 2微米
用于薄膜厚度的快速测量;提供三维扫描功能、应力测试功能