大型仪器设备开放共享网络平台

主要规格及技术指标

TEM分辨率：
点分辨率：0.1nm（200kV）、0.14nm（80kV）
线分辨率：0.072nm
STEM分辨率：
0.078nm（200kV）、
0.136nm（80kV）
信息分辨率：
0.1nm（200kV）、
0.12nm（80kV）
EELS能量分辨率：
0.33 eV

主要附件及配置

日本电子双能谱探头，每个探测器检测面积为100mm2；
GIF Quantum Model 965系统。

主要功能及特色

主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分分析。
可拍摄HRTEM、STEM HAADF/ABF、EDS mapping、EELS mapping。