加速电压:80 kV, 200 kV
极靴类型:高分辨极靴
点分辨率:0.23 nm (200 kV)
晶格分辨率:0.104 nm (200 kV)
扫描透射附件分辨率:0.19 nm
放大倍数误差:±5%
样品室真空度:优于2×10-5 Pa
能谱分辨率(100 mm2):133 eV
日本电子超级能谱仪,探测器检测面积为100mm2
主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分分析。可拍摄TEM BF/DF image、SAED pattern、HRTEM image、STEM EDS mapping等
公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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