场发射透射电镜JEM-F200
仪器编号
21000177
规格
JEM-F200
生产厂家
日本电子株式会社
型号
JEM-F200
制造国家
日本
购置日期
2018-10-01
放置地点
物理学院D-B105
出厂日期
2018-09-01

主要规格及技术指标

加速电压:80 kV, 200 kV
极靴类型:高分辨极靴
点分辨率:0.23 nm (200 kV)
晶格分辨率:0.104 nm (200 kV)
扫描透射附件分辨率:0.19 nm
放大倍数误差:±5%
样品室真空度:优于2×10-5 Pa
能谱分辨率(100 mm2):133 eV

主要附件及配置

日本电子超级能谱仪,探测器检测面积为100mm2

主要功能及特色

主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分分析。可拍摄TEM BF/DF image、SAED pattern、HRTEM image、STEM EDS mapping等

公告名称 公告内容 发布日期

暂无收费标准