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透射电子显微镜F200
透射电子显微镜F200
仪器编号
24000120
规格
JEM-F200
生产厂家
日本电子株式会社
型号
JEM-F200
制造国家
日本
购置日期
2019-10-23
放置地点
当代楼115
出厂日期
2020-09-10
主要规格及技术指标
TEM点分辨率：0.23 nm
TEM线分辨率：0.1 nm
STEM分辨率：0.16 nm
加速电压：200，80 kV
放大倍率：MAG模式 2000–2M倍
Low MAG模式 50–6,000倍
STEM模式100–150M倍
主要附件及配置
无
主要功能及特色
JEM-F200透射电镜搭载有场发射电子枪，能够达到更高的分辨率。自动化测角台，能够实现自动进出样品杆。
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
|---|
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