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主要规格及技术指标

1 仪器组成
1.1 X 射线发生器与旋转阳极部分
1.2 测角仪及控制部分
1.3 样品台（大型欧拉环样品台及粉末样品台）
1.4 光学系统
1.5 探测器
1.6 仪器控制和数据采集系统
1.7 循环水冷系统
2 技术规格：系统适用于普通聚焦光路分析及平行光路分析，可以智能识别并管理光路组件，确
认光路的正确性。系统自动可调，光路系统中包括各种狭缝、光学晶体、样品台及检测器均可以
自由拆卸安装，部分具有一键更换功能。拆卸安装后光路计算机自动校准，无须人工调整。
2.1 X 射线发生器与旋转阳极部分
*2.1.1 X-射线发生器：最大输出功率：9kW；高压稳定度：±0.005% (外电路波动：±1%)；
2.1.2 高速旋转阳极 Cu 靶一个：9kW，带一个快门；
2.1.3 配置不少于 12 根钨灯丝；
*2.1.4 X 射线防护：安全连锁机构、剂量符合国标：1.0μsv/h(10cm)。投标仪器具有省级以上
环保部门辐射安全豁免批复（详见文件上批准的电压和电流的乘积应等于仪器满功率：45KV，200mA），用户无需办理使用 XRD 所需的辐射安全许可证。
*2.2 测角仪系统：具有三重光学编码定位系统，测角仪入射轴和接收轴分别直接定位；马达驱
动：交流伺服马达驱动，闭环反馈控制；
2.2.1 扫描方式：θ/θ方式, 立式测角仪，样品水平放置；
2.2.2 可读最小步长：≤1/10000º；
2.2.3 角度重现性：±1/10000º；
*2.2.4 测角仪半径：≥300 mm，测角圆直径可连续改变；
2.2.5 2θ转动范围：-5°~160°，可以停止在任何规定角度。
2.3 样品台：大型欧拉环样品台
*2.3.1 具有 X、Y、Z 三个平动轴，、、、 四圆，均可计算机控制；
2.3.2 扫描，范围超过 360°，最小步长：0.002°；
2.3.3 扫描，范围至少-5°－+95°，最小步长：0.01°；
2.3.4 扫描，转动范围-5°－+95°或优于此范围，最小步长：0.0001°；
2.3.5 转动范围至少-5≤2≤160，最小步长：0.0001°；
#2.3.6 X、Y 轴（马达驱动，自动可调）：可以放置直径为 100mm 的样品，X 和 Y 轴的移动范围 至少为 100mm，最小步长: 0.001mm；
#2.3.7 Z 轴（马达驱动，自动可调）范围-1--+1mm，最小步长:0.0001mm;
2.3.8 提供 4 英寸或以上无沾污样品架；
*2.3.9 In-Plane 组件：含面内衍射的附件及光路单元；包括 XY 轴高精度角度微调样品台。
2.3.10 配置标准粉末样品台，带 100 个或以上玻璃粉末样品架或铝样品架，2 个单晶硅零背底
板；
*2.3.11 微区分析系统：包括马达自动驱动 X-Y-Z 样品台（内容见上）以及 CCD 可视定位系统，
并配置 0.1mm、0.3mm、0.5mm 准直器；
#2.3.12 带狭缝的 GI-WAXS 样品台，配置挡光器。
2.4 光学系统
*2.4.1 双光路系统，一体化平行光路和聚焦光路，互换容易，光路自动校准；光学器件：平行
光路必须采用平行光反射镜（多层膜透镜）加平行光索拉狭缝组合，含小角衍射模块；X 射线波
长：Cu Ka；分散角：≤0.05；
2.4.2 自动入射和接收狭缝：0.05~7mm, 程序自动可调，0.01mm 步进；
2.4.3 配置 2.5°入射束和衍射束索拉狭缝一对；
*2.4.4 高分辨光路：配置入射端高分辨 Ge（220）双晶单色器，接收端高分辨 Ge（220）双晶分析器。入射端 Ge(440) 四晶高分辨单色器。
#2.4.5 Ge(220)双晶单色器性能：Si 单晶标样的 Si（400）摇摆曲线半峰宽不大于 0.008 度（omega scan）；Ge(440)四晶单色器性能：Si 单晶标样的 Si（400）摇摆曲线半峰宽不大于 0.003 度（omega scan）；
#2.4.6 所有光学附件智能芯片识别、自动精确定位，配置智能化软件识别和操作向导工具；光
学附件均采用模块化设计，“一触式”连接，安装、拆卸方便快捷；光管、样品装置及检测器等
拆装后光路无须人工调整。
*2.5 探测器系统：
二维实时光电直读像素探测器，检测器窗口有效面积 2800mm2以上，像素点≤100 μm×100 μm，
具有 280000 以上像素，支持固定照相模式、扫描模式及原位分析。99%线性范围：2.9x1011cps。
最小背景：0.1cps，有高计数模式及去除荧光背景模式功能，消荧光模式能消除铜靶照射铁、钴、
钨、镍样品产生的荧光，完全免维护；工作方式： 0 维（点探测器），1 维（阵列探测器模式）,
2 维（面探测器模式），软件实现模式互换。
2.6 计算机系统及仪器控制和分析软件，标准数据库
2.6.1 计算机控制系统：不低于 Windows 10 操作系统，i7 酷睿八核，16G 内存，2T 硬盘，24
倍可刻录 DVD 光驱，4GB 显卡，27 英寸 2K 分辨率液晶显示器两台，键盘，鼠标，网卡；激光打印机 1 台；另配计算机两台，一台专用于离线数据处理，另一台用于局域网密钥授权，主机配置同上，每台主机配备一台 27 英寸 2K 分辨率液晶显示器；
2.6.2 运行在 Windows10 及以上系统环境下仪器控制和采集专家系统软件：
2.6.2.1 系统操作软件：可自动根据样品测试要求判断需要的光路条件，并能自动调整；根据样
品情况自动调整最佳样品高度位置；配备专家库系统，并根据样品情况给出最合适的测试条件；
2.6.2.2 数据处理软件：含物相定性、定量分析软件，可编程定性定量分析；应用分析软件：包
括点阵参数精密化，晶粒大小与晶胞畸变&结晶度分析等；Rietveld 全谱拟合无标样定量及结构
精修软件；
2.6.2.3 高分辨薄膜分析软件、反射率软件、摇摆曲线与 Mapping 分析软件、极图与 ODF 分析；
2.6.2.4 应力分析软件包；
2.6.2.5 系统操作软件、数据处理软件、应用分析软件及其它配套软件包均需配备局域网授权以
及离线授权密钥。
2.7 循环水冷系统
2.7.1 要求能连续工作，控温精度：≤±2℃；供水流量：满足发生器要求；进水温度：应可调，
保证主机正常运转，并有过热保护；
2.7.2 外部冷却水系统(分体式，国产)：内置冷却剂非风冷方式，满足仪器满功率运行要求；温
度范围：5~35℃；温度稳定度：±2℃。
3.技术资料
3.1
提供与推荐设备及其附件相一致的技术资料，至少包括：技术参考手册、使用说明书、维
修及安装说明等；
3.2 所提供技术资料应能够满足用户对硬、软件设备的安装、使用、维护、升级的需要。
4.技术服务
4.1 仪器到达后，在接到通知后 2 周内进行免费配套安装调试，直至通过验收；
4.2 技术培训：设备安装调试完成后，应免费对用户指定的技术人员进行现场的操作/维护培训，
直至掌握。培训内容包括仪器的技术原理、仪器操作、数据处理、仪器基本维护、故障排除等方
面。2 人免费参加厂家举办的专场培训班；
4.3 售后服务：设备要求整机自最终验收合格之日起质保期4 年；
4.4 维修响应时间：质保期内维修响应时间 4 小时，若电话指导无法排除故障，供方技术员应在 48 小时以内到达现场进行检查、维修，12 小时内排除故障并出具维修维护报告（包括故障原因、 处理情况等）供用户备案；质保期内免费更换损坏的零部件。
5.交货期
合同生效后 5 个月内。

主要附件及配置

无

主要功能及特色

科研