线分辨率:0.14 nm 放大倍数:x 30 – 1.5 M
EDS能谱
JEM-2100Plus采用多级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束,大大提高了分析和衍射成像能力。配备有日本电子JED2300特征X射线能谱探测器,用于定性分析材料元素组分,以及半定量分析各元素含量。