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主要规格及技术指标

成像模式：接触模式、动态模式、相位模式、水平力模式、力调制模式、力曲线模式、电流模式、表面电势模式（KFM）、扫描隧道模式（STM）、压电模式（PFM）、溶液扫描模式、颗粒分析

主要附件及配置

扫描器：快速扫描器（10×10 μm）、狭域扫描器（2.5×2.5 μm）
环境配置：真空系统、可控气氛腔室、腔室温湿度调节系统（温度≥50℃，湿度≤60%）、样品加热冷却系统（-90-300℃）

主要功能及特色

本台原子力显微镜（AFM）可以在纳米尺度下研究材料表面的结构、力学、和电学等性质。配备全套测试附件，共12种成像模式，可实现对样品的表面形貌、相位、摩擦力、力学特性、表面电势、压电性能等的高效表征。同时本仪器配备可实现液下、空气两种环境下的观察，并配有可控气氛腔室系统，能够实现腔室气氛控制、温湿度、以及样品台的加热冷却等功能，完成样品在不同环境下的在线观察。