044 300kV球差校正透射电子显微镜(JEM-ARM300F2)
仪器编号
26000051
规格
生产厂家
日本电子株式会社
型号
JEM-ARM300F2(GRAND ARM2)
制造国家
日本
购置日期
2022-06-01
放置地点
工学部尖端科技楼101A
出厂日期
2022-06-01

主要规格及技术指标

TEM 信息分辨率: 60pm( 300kV) 90m( 80kV) TEM 线分辨率:≤50pm( 300kV) STEMHAADF 分辨率:53pm( 300kv)78pm( 200kv)96pm( 80kV)136pm( 40kV) 隆池图获取Semi-angle: ≥35mrad ( 300kv) ≥30mrad( 200kv) ≥30mrad( 80kv) ≥20mrad( 40kv) BEI resolution: 1nm(300kV) EDS分辨率:优于 133ev( MnKα 线) EELS分辨率: 0.35ev( 300kV)

主要附件及配置

EDS,EELS,SAAF,IDES,4D-STEM

主要功能及特色

公告名称 公告内容 发布日期

暂无收费标准