分辨率: 3 nm@30 kV; 8 nm@3 kV放大倍数: 2 - 2,000,000 x加速电压: 0.2 -30 kV探针电流: 1 pA - 2 uA
配备Bruker XFlash6|30能谱仪,可对Be~Cf元素进行定性及定量分析,具备微区点、选区分析、线扫描及面分布分析
可拍摄各类样品的表面形貌二次电子像、背散射电子像。可做EDS能谱分析。倍数可放至1-2万倍。