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043 场发射透射电子显微镜(JEM-F200)
043 场发射透射电子显微镜(JEM-F200)
仪器编号
22000467
规格
200 kV
生产厂家
日本电子株式会社（JEOL）
型号
JEM-F200
制造国家
日本
购置日期
2022-06-01
放置地点
工学部尖端科技楼101C
出厂日期
2022-06-01
主要规格及技术指标
TEM点分辨率：0.23 nm
TEM线分辨率：0.1 nm
STEM分辨率：0.16 nm
放大倍率：MAG模式 2000–2M倍
Low MAG模式 50–6,000倍
STEM模式100–150M倍
主要附件及配置
超级能谱仪（双能谱探头）JED-2300T
Gatan Oneview相机
主要功能及特色
自动进样
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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暂无收费标准
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