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主要规格及技术指标

2.1、光源：予校准氘灯（紫外区）、碘钨灯（可见近红外区），软件可自动切换所需的光源。预校准的设计，用户可自行更换光源，保证换上的光源处于最佳发光位置。
2.2、光学系统：光学系统采用涂SiO2的全息刻线光栅，紫外/可见光栅刻线数不少于1400条/毫米；近红外光栅刻线数不少于300条/毫米；闪耀波长1100nm。
*2.3、切光器系统：采用40+Hz以上四区分段扇形信号收集斩波器技术（黑区/样品/黑区/参比循环，CSSC技术），最及时地扣除样品和参比中灯的暗电流，确保每得到最准样品和参比的信号。
*2.4、主光束遮挡器：标配带有软件控制的主光束遮挡器（0%、0.1%、1%、100%可选）及软件控制的可进行参比及样品光束的衰减器。平衡样品光路和参比光路的技术，特别适合于低透射率或低反射率的样品。
*2.5、样品仓：固体、液体样品均可测试，同时固体样品仓和液体样品仓为两个对立的样品仓，无需公用同一样品仓，相互无交叉污染，无需更换或者拆卸附件。
2.6、波长范围：175〜3300nm。
2.7、分辨率： 紫外/可见≤0.05nm，近红外≤0.20nm。
2.8、杂散光（典型值）：
220nm（10g/L NaI ASTM方法）：≤0.00007 %T。
340nm（50mg/L NaNO2 ASTM方法）：≤0.00007 %T。
1420nm（H2O 1cm光程）：≤0.0004 %T。
1690nm（CHCl3 4cm光程）：≤0.0015 %T。
2.9、波长精度：紫外/可见优于±0.05nm，近红外优于±0.3nm。
*2.10、波长重复性：紫外/可见≤0.005nm（十次测量标准偏差），近红外≤0.01nm（十次测量标准偏差）。
2.11、光度计精度：优于±0.006A（NIST Filters 1A）。
*2.12、光度计重复性：≤0.00016A（在1A, 用NIST930D滤光片测量10次）。
2.13、吸光度范围：紫外/可见8A，近红外6A。
2.14、带宽：紫外/可见区0.05nm-5.0nm可调，步距0.01nm；近红外区0.2nm-20nm可调，步距0.04nm。
*2.15、基线漂移（光度稳定性）：≤0.0002A/小时（500nm, 0A）。
2.16、基线平直：优于±0.0008A（200〜2500nm）。
2.17、噪声：≤0.000045A（0A，500nm均方根）。
*2.18、双光束模式积分球附件：用于透射、漫反射、总反射率、色坐标（色度）、雾度测量。内径≥100mm积分球，积分球检测器为PMT+PbS，内涂层材质为光学聚四氟乙烯涂层（非硫酸钡和氧化镁涂层），聚四氟乙烯漫反射白板。使用波长范围200〜2500nm。

主要附件及配置

无

主要功能及特色

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