1 封闭式透射型X射线源,最高工作电压160kV,最大功率10W。
2 CMOS平板探测器探测器,单次扫描最大视野范围140mm/90mm(直径/高度)--仅 限低密度样品;样品密度越高,尺寸需减小。
3 空间分辨率2μm及以上(成像效果与样品材质、尺寸密切相关)。
无
X射线三维动态显微成像平台(简称micro CT)利用X射线穿透样品,探测器收集不同吸收信号,实现X射线全场3D成像,并进行三维重构和切片表征。仪器具备纵向自动拼接、导航式扫描、180度扫描、定位放大扫描功能。成像模式具备吸收衬度和相位衬度成像功能。应用范围包括:增材制造、金属、陶瓷内部缺陷检测;复合材料、多孔材料、建筑材料、岩石三维孔隙结构、特征提取和定量分析;电池、芯片、热电材料等失效分析等。
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