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主要规格及技术指标

基系统主要技术参数：
温度区间（1.9 - 400 K）、降温速度（20 K/min，10 K ≤ T ≤ 300 K；5 K/min，1.9 K ≤ T ≤ 10 K）、磁场强度（±7 T）、励磁速度（4 - 700 Oe/s）、样品室（内径9 mm）。

主要附件及配置

1、直流磁测量选件
灵敏度： ≤2500 Oe：≤5×10-8 emu（DC scan），≤1×10-8 emu（VSM） ；>2500 Oe：≤6×10-7 emu（DC scan），≤8×10-8 emu（VSM）。
2、高温磁测量及高真空选件：
变温区间：315 - 1000 K；可测量样品最大尺寸： 10 mm × 5 mm × 2 mm。
3、交流磁化率测量选件：
AC频率范围：0.1 - 1k Hz；AC磁场振幅：0.1 - 10 Oe。
4、超低场测量选件：
可将剩场从几个Oe降低为几十mOe。
5、光诱导磁测量选件：
光源波长范围：280 - 1100 nm；样品尺寸：最大直径≤ 1.6 mm。
6、高压磁测量选件：
最大压强：1.3 GPa（理论极限，室温）；样品腔尺寸：内径1.7 mm（外径 2.1 mm）/内径2.2 mm（外径2.6 mm）；样品腔长度：7 mm。
7、He3极低温测量选件：
最低温度：≤ 0.5 K。
8、高级电输运测量选件：
电流范围：10 nA - 100 mA；频率范围：0.1 - 200 Hz；电阻测量范围：10 μΩ - 5 GΩ。
9、水平旋转样品杆选件：
标准样品台样品区域尺寸：4 mm × 4 mm × 2 mm；薄膜样品台样品区域尺寸： 直径4 mm；旋转角度范围：0° - 360°。

主要功能及特色

超导量子干涉磁学测量系统采用超导量子干涉测量技术，可进行低温强磁场下的磁滞回线、初始磁化曲线、矫顽力、饱和磁化强度、剩磁等多种磁学物理性能的测量和探究，可广泛应用于物理、材料、化学、微电子等多个前沿学科领域。