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主要规格及技术指标

1、 温度范围：-100 ℃~ 500 ℃，单一炉体；氙灯，能量10 J/Pulse；非接触式测量，IR检测器检测样品上表面升温过程
2、 数据采集速率：高达2 MHz（包括半升温信号检测，及pulse mapping技术）——对于高导热及薄膜样品，采样时间（约为半升温时间10倍）可低至1 ms，样品厚度可至0.01mm以下（取决于具体的导热系数）
3、 热扩散系数测量范围：0.01 mm2/s ~ 2000 mm2/s；导热系数测量范围：< 0.1 W/(mK) ~ 4000 W/(mK)
4、 样品尺寸：直径6 mm ~ 25.4 mm（包括方形样品），厚度0.01 mm ~ 6 mm（样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能）；16个样品位的自动进样器；20多种支架类型；丰富的测量模式，适应各种类型的样品。如各向异性材料，多层模式分析，薄膜，纤维，液体，膏状物，粉末，熔融金属，压力下的测试，等等。
5、 Zoom Optics优化检测器的检测范围（技术）；保护的pulse mapping 技术，用于脉冲宽度修正，可以提高比热值的测量精度；气氛：惰性、氧化性、静态/动态、负压

主要附件及配置

无

主要功能及特色

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