全光谱超分辨共聚焦显微镜
全光谱超分辨共聚焦显微镜
仪器编号
25000172
规格
*STELLARIS 5 WLL
生产厂家
Leica
型号
*STELLARIS 5 WLL
制造国家
276
购置日期
2022-12-27
放置地点
出厂日期
2024-10-01

主要规格及技术指标

1. 固体激光器405nm,功率≥50mW;固体激光器488nm,功率≥20mW;
2. 脉冲白激光器: 在485nm-685nm范围内,步进精度≤1nm,自由选择激发谱线进行成像,同时输出脉冲激光谱线≥8条谱线激光,包括488nm, 514nm,532nm,543nm,561nm, 594nm, 638nm, 647nm等;
3. 高效多色分光系統: 配备声光调制晶体分光系统,由声光器件控制,无需滤光片和机械切换,最多可同时调节出≥8根激发谱线,每根激发谱线的强度均可独立调节,调节精度不低于0.01%;
4. 激光器开闭和电压调节由计算机的激光共聚焦扫描软件系统控制,与整个系统偶合程度高,电噪声小,安全,并具备激光管寿命保护装置;
5. 激光扫描组件与所接显微镜一体化设计,一体化像差及色差校正。软件对硬件的有效控制,使系统有稳定性及可维护性,光纤藕合和镜藕合可接低功率激光器;
6. 能够进行X、Y、Z、T、λ(发射光谱扫描)、Λ(激发光谱扫描)、θ(旋转角度)、I(光强度)、A(区域)等多维组合扫描,可实现点扫描、线扫描、区域扫描、光谱波长扫描等;
7. 可最多同时进行≥5个荧光信号外加≥1个透射光的的采集;
8. 光谱检测装置: 高效率分光系统, 光透率超过90%。配备发射光调节步进1nm, 连续检测荧光波长范围410~850nm;
9. 可见光专用光学扫描部件,波长校正范围不少于410~850nm;
10. 最大扫描视场对角线不少于22mm;
11. 高分辨率扫描振镜:扫描速度不少于10帧/秒(≥512 x 512分辨率),最大扫描分辨率≥8192 x 8192,光学扫描放大0.75X~48X,连续可调;
12. 高分辨率扫描头具有线性和正弦两种扫描方式,线性扫描提供非对称的扫描方式,确保每一个像素点具有相同的扫描时间,保证定量研究的准确度,在400Hz的单向扫描速度下,单个像素点的驻留时间≥3微秒;
13. 内置高灵敏自由可调光谱型荧光检测器≥3个,每个荧光检测器都可做全光谱自由扫描和成像;检测器均为超高灵敏度的硅基阵列式雪崩型二极管混合型检测器,在500nm处量子探测效率不少于58%;
14. 透射光明场检测器:至少1个PMT检测器;
15. 系统需配备自动高速成像运算,能在不影响采图速度的情况下利用多张图片间平均来提升图像信噪比,既可以用于实时预览,也可以用于后期分析。
16. 能够进行荧光寿命成像检测器不少于3个,在500nm处量子探测效率不少于58%,具有0、1、2三个维度来精确检测光子。
17. 两种采样方式:高动态范围的模拟模式,采样率80 MHz;用于检测光子平均到达时间的光子计数模式,采样率10.3 G Hz;
18. 系统可以基于荧光寿命信息去除反射光和样品自发荧光,提高图像反差,同时可以截取两个光子到达时间窗口来获取有效信号;
19. 成像分辨率:XY方向≤120nm,Z方向≤200nm,支持同时≥4个通道同时实现120nm分辨率成像;
20. 检测器为硅基阵列式雪崩型二极管混合型检测器,可进行光谱式成像,光谱检测范围410-850nm;
21. 在线实时出图,图片采集后无需等待后处理提升分辨率,且同时保留原始图片和超高分辨率图片;
22. 研究级全自动倒置显微镜:具备明场、荧光、微分干涉观察功能。显微镜控制可通过彩色触摸屏、遥控器、机身按钮、共聚焦软件来控制;
23. 控制硬件的功能:控制电动显微镜、选择激光波长、调节激光强度、拍摄2-5维图像、选择光谱拍摄范围、成像分辨率、实验条件实时记录、一键式恢复等;
24. 三维重构软件:具有多种三维重构渲染方式,包括最大强度投影、透明、深度标识和阴影投影等方式,可对重构图进行任意角度旋转、平移、放大和缩小,可对每个荧光通道的强度、灰阶、伽马值及透明度进行独立调节。

主要附件及配置

主要功能及特色

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公告名称 公告内容 发布日期

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