测试频率范围:10MHz至26.5GHz 测试端口数:4个,内置双源,具有可配置测试座 测试端口处系统动态范围(指标值):127dB@0.5GHz-20GHz 最大输出功率(指标值):+13dBm@0.5GHz-24GHz 幅度轨迹噪声(1kHz IFBW,指标值):0.002dB rms @1GHz至20GHz 相位噪声(10kHz频偏):-117dBc/Hz@1GHz载波,-93dBc/Hz@10GHz载波 最大测量点数:100001点,最大中频带宽:15MHz 配有对应频率范围的校准件和柔性稳相位电缆 能够通过Wafer Pro软件控制仪表和Cascade 探针台完成测试
无
精密自动测试,包括MEMS、射频/微波、器件性能测试、晶圆级别可靠性、建模等
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