半导体测试装置
仪器编号
18000342
规格
生产厂家
Keysight/美国
型号
N5222B
制造国家
中国
购置日期
2018-07-30
放置地点
先进制造与人工智能实验室207
出厂日期
2018-07-30

主要规格及技术指标

测试频率范围:10MHz至26.5GHz 测试端口数:4个,内置双源,具有可配置测试座 测试端口处系统动态范围(指标值):127dB@0.5GHz-20GHz 最大输出功率(指标值):+13dBm@0.5GHz-24GHz 幅度轨迹噪声(1kHz IFBW,指标值):0.002dB rms @1GHz至20GHz 相位噪声(10kHz频偏):-117dBc/Hz@1GHz载波,-93dBc/Hz@10GHz载波 最大测量点数:100001点,最大中频带宽:15MHz 配有对应频率范围的校准件和柔性稳相位电缆 能够通过Wafer Pro软件控制仪表和Cascade 探针台完成测试

主要附件及配置

主要功能及特色

精密自动测试,包括MEMS、射频/微波、器件性能测试、晶圆级别可靠性、建模等

公告名称 公告内容 发布日期

暂无收费标准