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主要规格及技术指标

1.闭循环低温强磁场光学测量系统部分
1.1采用闭循环制冷，无需灌装液氦及液氮等制冷液
1.2基系统冷台基台温度特性
1.2.1冷台基台温度范围：无负载情况下，1.7K~350K
1.2.2冷台基台温度稳定性：无负载情况下，±0.2%（T<20K）±0.02%（T>20K）
1.2.3系统冷却时间：无负载情况下，~20小时（典型值~16小时）
1.2.4样品腔整体处于冷态下且不更换样品情况下，冷台基台降温至4K时间：≤4小时 （典型值：~3小时）
1.3基系统磁体磁场特性
1.3.1最大磁场强度：±7T
1.3.2磁场均匀度：±0.3%（3厘米球）
1.3.3加场速度：0至7T，≤30分钟（典型值~20分钟）
1.4基系统冷台基台振动稳定性：无负载情况下，≤10nm峰-峰值
1.5基系统测试样品腔特性
1.5.1光学窗口数量：至少8个（其中顶部1个，侧向7个）
1.5.2窗口为可更换式设计，用户可自行更换窗片
1.5.3自由样品空间：≥80mm直径×80mm高度
1.5.4样品腔真空度：≤1×10e-4 Torr
1.5.5 DC电学针脚数量：不少于16个
1.5.6样品腔与制冷机采用L型连接结构，样品腔中心位置与制冷机的水平距离≥10cm
1.6配套位移台用导热连接组件，可适配三维电动位移台
1.7配套位移台用低阻电学引线接口组件，针脚数量：至少15个
1.8配备顶部低工作距离窗口组件，外窗上表面至内窗下表面的间距：≤4mm
1.9设备功能拓展性：设备后续需可升级底部光学窗口、RF引入接口、光纤引入接口、内置物镜等功能组件
2.低温闭环电动三维位移台部分
2.1可兼容低温强磁场实验环境
2.2驱动方式：电动、移动维度：XYZ三维
2.3移动范围：6mm@XY，5mm@Z同等级别或更优
2.4最小移动步长：≤100nm（典型值）
3. 高分辨成像光谱仪部分:
3.1.光谱仪焦长：≥500mm
3.2光栅塔轮：至少三光栅塔轮,最多可支持3套塔伦9光栅.
3.3CCD分辨率：≤0.07 nm @1800G光栅546nm
3.4焦平面尺寸: 30 毫米宽 x 14 毫米高同等级别或更优
3.5波长精确度：±0.2 nm（使用全自动校准模式后至多达±0.02nm）
3.6光栅面积：≥60*60mm
3.7校准方式: 可支持全自动校准模式,提高光谱分辨率以及波长准确性
3.8 像元分辨率：≥1340*400
3.9像素尺寸：≥20 um * 20 um
3.10成像面积：≥26.8 mm * 8.0 mm
3.11填充因子：≥99 %
3.12暗电流：≤0.03e-/像素/小时 @ -75℃
3.13量子效率:600~900nm≥90% 峰值量子效率：≥98%
3.14最低制冷温度：≤-70℃
3.15纵向转移速度：≤15 微秒/行
3.16非线性度：<1% @ 100 kHz
3.17读出噪声：100 kHz —— ≤5 e- 2 MHz ——≤ 16 e-
3.18探测范围:至少包含250~1000nm
3.19 具备近红外消干涉条纹镀膜
4.显微镜模块部分
4.1光学系统：无限远校正光学系统。
4.2光源：12V不小于100W卤素灯光源，含有光源控制器。
4.3聚焦行程不小于30 mm，每转的微调行程:200 μm ，最小刻度:2 μm 配有用于粗调手柄的扭力调节。
4.4视场数FN:≥26.5
4.5配有至少3个双光口部件，配有至少一个侧位镜筒可以直接与光谱仪连接，配有专用系统支架，可XYZ移动。
4.6高级消色差明场物镜：10倍，数值孔径≥0.25；工作距离≥10.6mm；100倍，数值孔径≥0.60；工作距离≥7.6mm

主要附件及配置

无

主要功能及特色

无